我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測。

檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），簡單方便的是X熒光光譜儀，精度更高穩(wěn)定性更好的是實驗室使用的專業(yè)測試鋼材成分設備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

金屬材料檢測儀器

儀器介紹：

  手持式儀器簡介：

X射線熒光光譜分析儀，有效檢的應對有害元素檢測、合金分析、礦石分析、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務于伊朗核查和歐美各大海關等重要部門。

部分客戶

核查小組

大亞灣核電站

寶鋼集團

鞍鋼集團

撫順特鋼

齊魯特鋼，

黃埔電廠

嘉興電廠

寶豐不銹鋼管

鳳凰銅管

北方管業(yè)

中國石油

中國石化

中金有色金屬

江西銅業(yè)，

浙江廢舊金屬

瀘天化

銀海化肥

華北制藥

葛洲壩水泥

中國核動力研究院

哈飛集團

包頭坦克，

四川省煙草局

湖北省煙草局

鄭州

合金分析儀*性能

. 超的檢測精度度。

. 超的穩(wěn)定性，超的重復性。

. 優(yōu)異的線性相關性。

. 采用了*重新設計的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。

. 結構更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應用信號提了~40%.

. 新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測樣品，具有8 個濾波器，可適應的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產(chǎn)生好的分析效果。

. 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。

. SDD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。

. 可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質元素。

. 內置的氣壓計可以糾正氣壓，氣壓計壓力感應, 可根據(jù)不同的壓力調整，從而是檢測值更加準確，儀器預設海平面，客戶在不同的海拔度測試，無需再次校準。

. 內置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作。

. 智能接駁座可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)，可讓儀器即時標準化，儀器隨時待命狀態(tài)。

. 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關機，在系統(tǒng)運作中拔掉電池，有超過30秒的時間可以插入一個新電池。

. 儀器開機并不需要標準化，可以直接測試，標準化僅僅是可選項。

. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設計，堅固耐用，手柄軟膠設計，手感好,更適合長時間使用。

合金分析儀技術性能

. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。

. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面，無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。

. 被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。

. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。

合金分析儀元素分析范圍

可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。

直讀光譜儀簡介：

型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，應用了的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個數(shù)，與光譜儀yi流技術同步，采用真空光室設計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計合理，操作簡單易學，具有數(shù)據(jù)，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。

主要技術參數(shù)

v  波長范圍：140~680nm

v  光柵焦距：401mm

v  探 測 器：性能CMOS陣列/CCD陣列

v  放電頻率：100-1000Hz

v  放電電流：大500A

v  檢測時間：依據(jù)樣品類型而定，一般20S左右

v  分析間隙：4mm

金屬材料檢測儀器